
|
 |
Микропроцессорный дефектоскоп малого размера и веса, с цифровой обработкой сигнала, отличающийся удобством в работе и простотой в обслуживании.
Дефектоскоп предназначен для контроля продукции на наличие дефектов (обнаружения дефектов) типа нарушение сплошности и однородности материалов в полуфабрикатах, готовых изделиях, для измерения глубины и координат их залегания, измерения толщины, измерения скорости распространения и затухания продольных ультразвуковых колебаний.
|
 |
- Рабочие частоты от 20 до 200 кГц
- Скорости звука от 100 до 1000 м/с
- Зондирующий импульс радиоимпульс, 120 В
- Частота следования зондирующих импульсов 10, 25, 100, 200 и 400 Гц
- Регулировка усиления от 0 до 80 дБ, с шагом 1 дБ
- Отображение сигнала Жидкокристаллический индикатор 240 х 128 точек, 110 х 65 мм
- Развертка: от 150 до 7500 мкс (развертка задается в мм, в зависимости от скорости звука)
- Отсечка компенсированная, от 0 до 80% высоты экрана
- Автоматическая сигнализация дефектов (АСД): Двухканальная, световая и звуковая (с отключением), уровень срабатывания от 5 до 95% высоты экрана, настройка срабатывания (выше или ниже порога)
- Методы контроля эхо-метод, теневой метод
- Вывод информации на внешние устройства интерфейс RS 232 для вывода результатов контроля; логические сигнал о наличие дефектов в зонах контроля
- Питание аккумуляторы (6 шт) или блок питания, 9В, 1А
- Габариты (ШхВхГ) 220 х 120 х 150 мм
- Масса, кг не более 3,5 (без аккумуляторов)
|
|
|
|